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	<title>Achievements for category Bancs de tests - OPµS</title>
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	<description>Systèmes optiques, robots de haute précision, automation</description>
	<lastBuildDate>Tue, 09 Mar 2021 08:45:19 +0000</lastBuildDate>
	<language>fr-FR</language>
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	<item>
		<title>Testeur de linéarité pousse-seringues</title>
		<link>https://www.optique-microsystemes.com/fr/realisations/testeur-de-linearite-pousse-seringues/</link>
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		<dc:creator><![CDATA[Thomas BURRY]]></dc:creator>
		<pubDate>Tue, 09 Mar 2021 08:38:55 +0000</pubDate>
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					<description><![CDATA[<p>Banc de test pour la validation de la linéarité des pousse-seringues. Conception salle blanche et ESD Base PC avec interface tactile Objectis Machine Entrées-sorties et contrôleurs d’axes sur bus de terrain EtherCAT Simulation d’une seringue par un axe linéaire avec paramétrage libre de l’effort en tout point de la course Découplage des efforts par système&#8230; <a class="read-more" href="https://www.optique-microsystemes.com/fr/realisations/testeur-de-linearite-pousse-seringues/" title="Read Testeur de linéarité pousse-seringues">Lire la suite »</a></p>
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]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<p>Banc de test pour la validation de la linéarité des pousse-seringues.</p>
<ul>
<li>Conception salle blanche et ESD</li>
<li>Base PC avec interface tactile Objectis Machine</li>
<li>Entrées-sorties et contrôleurs d’axes sur bus de terrain EtherCAT</li>
<li>Simulation d’une seringue par un axe linéaire avec paramétrage libre de l’effort en tout point de la course</li>
<li>Découplage des efforts par système de pince déformable avec capteur de force pour régulation en boucle fermée de l’effort</li>
<li>Acquisition des données jusqu’à 1000 Hz en temps réel avec horodatage et validation continue de l’acquisition (100 % des pertes de données éventuelles détectées)</li>
<li>Aide à l’opérateur pour le déplacement de l’axe type « direction assistée »</li>
<li>Sécurité des axes entièrement pilotée par logiciel (Safety over EtherCAT) avec arrêts contrôlés</li>
<li>Différents niveau d’accès avec clé de maintenance</li>
<li>Génération de rapports de contrôle pour chaque assemblage</li>
<li>IHM rotative, inclinable et réglable en hauteur</li>
</ul>
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			</item>
		<item>
		<title>Test à la fatigue de matériau composites</title>
		<link>https://www.optique-microsystemes.com/fr/realisations/test-a-la-fatigue-de-materiau-composites/</link>
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		<dc:creator><![CDATA[Charles DEVILLIERS]]></dc:creator>
		<pubDate>Mon, 08 Jun 2020 08:08:28 +0000</pubDate>
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					<description><![CDATA[<p>Machine de test de résistance à la fatigue de pales d’éoliennes en matériaux composites.</p>
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]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<p>Machine de test de résistance à la fatigue de pales d’éoliennes en matériaux composites.</p>
<p>L’article <a href="https://www.optique-microsystemes.com/fr/realisations/test-a-la-fatigue-de-materiau-composites/">Test à la fatigue de matériau composites</a> est apparu en premier sur <a href="https://www.optique-microsystemes.com/fr/">OPµS</a>.</p>
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		<item>
		<title>Banc de test pour tomographie à rayons X</title>
		<link>https://www.optique-microsystemes.com/fr/realisations/banc-de-test-pour-tomographie-a-rayons-x/</link>
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		<dc:creator><![CDATA[Charles DEVILLIERS]]></dc:creator>
		<pubDate>Mon, 08 Jun 2020 08:06:06 +0000</pubDate>
				<guid isPermaLink="false">https://www.optique-microsystemes.com/fr/?post_type=portfolios&#038;p=8774</guid>

					<description><![CDATA[<p>L’article <a href="https://www.optique-microsystemes.com/fr/realisations/banc-de-test-pour-tomographie-a-rayons-x/">Banc de test pour tomographie à rayons X</a> est apparu en premier sur <a href="https://www.optique-microsystemes.com/fr/">OPµS</a>.</p>
]]></description>
										<content:encoded><![CDATA[<p>L’article <a href="https://www.optique-microsystemes.com/fr/realisations/banc-de-test-pour-tomographie-a-rayons-x/">Banc de test pour tomographie à rayons X</a> est apparu en premier sur <a href="https://www.optique-microsystemes.com/fr/">OPµS</a>.</p>
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